超広帯域誘電分光法による絶縁材料の物性評価と劣化診断

日 時:平成24(2012)年7月19日(木) 13:00~15:00
場 所:名古屋大学IB電子情報館 IB071講義室
講 師:早稲田大学 大木 義路 氏
参加者:約30名

内容

物質の電気的・磁気的・熱的などあらゆる性質は,物質内の電子・原子・分子などの挙動により生じている。

さらに,これらの各挙動には,特有の共鳴あるいは緩和周波数が存在するため,この周波数を特定することにより,各性質の原因となっている電子・分子の挙動を明らかにできる。本講演では,mHzからTHzオーダーおよび光学的周波数領域に至る極めて広い周波数領域に亘り,各種高分子絶縁材料などの複素誘電率スペクトル等を測定し,解析して得られた成果について報告された。